Treffer: Proceedings of the 2015 ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems

Titel:

Verantwortlich:

Körperschaft:

Veröffentlicht:

New York, NY : ACM, 2015

Vertrieb:

New York, NY : ACM

Umfang:

1 Online-Ressource (476 pages)

Publikationstyp:

E-Book

Sprache:

Englisch

Anmerkungen:

Title from The ACM Digital Library

ISBN:

9781450334860

Zusatz-Informationen