Treffer: Physical Principles of Electron Microscopy
Titel:
Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction to TEM, SEM, and AEM / by Ray F. Egerton
Verantwortlich:
Veröffentlicht:
Boston, MA : Imprint: Springer, 2005
Umfang:
XII, 202 Seiten : 122 illus.
Publikationstyp:
Sprache:
Englisch
Andere Ausgaben:
Elektronische Reproduktion von: Egerton, Ray. Physical Principles of Electron Microscopy. - Boston, MA : Springer, 2005
Schlagworte:
Vorliegende Ausgabe:
Online-Ausgabe: Berlin : Springer, 2007. - 1 Online-Ressource. - (SpringerLink: Springer e-Books)
ISBN:
9780387260167 ; 0387260161 ; 9780387258003 (Sekundärausgabe) ; 0387258000 (Sekundärausgabe)
DOI:
10.1007/b136495