Treffer: Proceedings of the 2007 ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Veröffent­licht:
New York, NY : ACM, 2007
Vertrieb:
New York, NY : ACM
Umfang:
1 Online-Ressource (386 pages)
Publikationstyp:
E-Book
Sprache:
Englisch
Anmerkungen:
Title from The ACM Digital Library
ISBN:
9781595936394