Treffer 221 - 240
von 240
221
Berlin : Springer, 2003
222
4. ed.
Amsterdam : Elsevier/Morgan Kaufmann, 2009
223
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Soc. Press, 1997
224
New York [u.a.] : Springer, 2005
226
3., überarb. u. erw. Aufl.
Berlin [u.a.] : Springer, 2004
227
Upper Saddle River, N.J. : Prentice Hall, 2000
228
Berlin : Springer, 2004
229
3. ed.
Berlin [u.a.] : Springer, 2008
230
Bonn : Ges. für Informatik, 2010
231
Weinheim : Wiley-VCH-Verlag, 2009
232
Los Alamitos, Calif. [u.a.] : IEEE Computer Society, 1998
233
Bonn : Ges. für Informatik, (2008)
234
Bonn : Ges. für Informatik, (2008)
235
Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 1999
236
Berlin [u.a.] : Springer, 2004
237
Berlin [u.a.] : Springer, 2004
238
Totowa, N.J. : Humana Press, 2010
239
The IT measurement compendium : estimating and benchmarking success with functional size measurement
Berlin [u.a.] : Springer, 2008
240
Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 1998