Treffer: Proceedings of the ACM SIGMETRICS international conference on Measurement and modeling of computer systems

Titel:

Verantwortlich:

Körperschaft:

Veröffentlicht:

New York, NY : ACM, 2010

Vertrieb:

New York, NY : ACM

Umfang:

1 Online-Ressource (386 pages)

Publikationstyp:

E-Book

Sprache:

Englisch

Anmerkungen:

Title from The ACM Digital Library

ISBN:

9781450300384

Zusatz-Informationen