Treffer: Scanning electron microscopy
Titel:
Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
Verantwortlich:
Ausgabe:
2., completely rev. and updated ed.
Veröffentlicht:
Berlin [u.a.] : Springer, 1998
Umfang:
XIV, 527 S. : Ill. ; 24 cm
Publikationstyp:
Sprache:
Englisch
Schriftenreihe/Mehrbändiges Werk:
Springer series in optical sciences ; 45
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Schlagworte:
ISBN:
3540639764
Lokale Schlagworte: