Treffer: Proceedings / 1991 ACM SIGMETRICS Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems

Veröffent­licht:
New York, NY : ACM, 1991
Umfang:
VIII, 228 S. : graph. Darst.
Publikationstyp:
Buch
Sprache:
Englisch
Schriftenreihe/­Mehrbändiges Werk:
Performance evaluation review ; Vol. 19, No. 1 : Special issue
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RVK-Notation:
ISBN:
0897913922