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Treffer: Feature-FL: Feature-Based Fault Localization

Title:

Feature-FL: Feature-Based Fault Localization

Authors:

Lei, Y., Xie, H., Zhang, T., Yan, M., Xu, Z., Sun, C.

Source:

IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 71(1):264-283 Mar, 2022

Database:

IEEE Xplore Digital Library

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