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Treffer: Current Challenges and Future Perspectives in Testing IoT Systems: A Comprehensive Review

Title:

Current Challenges and Future Perspectives in Testing IoT Systems: A Comprehensive Review

Authors:

Lima, B., Pinto, R.

Source:

IEEE Sensors Reviews IEEE Sens. Rev. Sensors Reviews, IEEE. 3:22-47 2026

Database:

IEEE Xplore Digital Library

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