ISO-690 (author-date, English)

KUMAR, Nitin, SANGWAN, Om Prakash und BENIWAL, Sunita, 2025. Software defect prediction using machine learning techniques. In: . 26 November 2025.

Elsevier - Harvard (with titles)

Kumar, N., Sangwan, O.P., Beniwal, S., 2025. Software defect prediction using machine learning techniques., in: . https://doi.org/10.1063/5.0299059

American Psychological Association 7th edition

Kumar, N., Sangwan, O. P., & Beniwal, S. (2025). Software defect prediction using machine learning techniques. 3357(1). https://doi.org/10.1063/5.0299059

Springer - Basic (author-date)

Kumar N, Sangwan OP, Beniwal S (2025) Software defect prediction using machine learning techniques.

Juristische Zitierweise (Stüber) (Deutsch)

Kumar, Nitin/ Sangwan, Om Prakash/ Beniwal, Sunita, Software defect prediction using machine learning techniques., 2025, .

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